T. Ozaki (Univ. of Tokyo)
H. Kino (NIMS)
J. Yu (SNU)
M.J. Han (KAIST)
M. Ohfuchi (Fujitsu Labs.)
F. Ishii (Kanazawa Univ.)
K. Sawada (RIKEN)
Y. Kubota (Kanazawa Univ.)
Y.P. Mizuta (Osaka Univ.)
H. Kotaka (Kyoto Univ.)
N. Yamaguchi (Kanazawa Univ.)
H. Sawahata (Kanazawa Univ.)
T.B. Prayitno (Univ. Negeri Jakarta)
T. Ohwaki (NISSAN ARC)
T.V.T Duy (AISIN SEIKI)
M. Miyata (JAIST)
G. Jiang (Wuhan Univ. of Sci. and Tech.)
T. Iitaka (RIKEN)
P.-H. Chang (George Mason Univ.)
A. Terasawa (Tokyo Tech)
Y. Gohda (Tokyo Tech)
H. Weng (CAS)
Y. Shiihara (Toyota Tech. Inst.)
M. Toyoda (Tokyo Tech)
Y. Okuno (FUJIFILM)
R. Perez (UAM)
P.P. Bell (UAM)
M. Ellner (UAM)
Yang Xiao (NUAA)
A.M. Ito (NIFS)
M. Otani (AIST)
M. Kawamura (Univ. of Tokyo)
K. Yoshimi (Univ. of Tokyo)
C.-C. Lee (Univ. of Tokyo)
Y.-T. Lee (Univ. of Tokyo)
M. Fukuda (Univ. of Tokyo)
S. Ryee (KAIST)
K. Terakura (NIMS)